PV模組性能與TDR檢測波形關聯分析研究計畫
一般太陽光電(Photovoltaic, PV)系統廠商選用模組產品時,常無法掌握該模組產品之現地發電性能,以致選用模組或預期系統發電量時會出現困難,而無法確實向業主說明或保證完成設置之系統發電量性能。另外,於系統設置初期或運轉一段時間後,PV模組性能好壞影響系統發電,且當模組性能衰減至某程度時將間接影響變流器之運轉,且長時間在低變流器轉換效率下發電,將影響整體供電效率。為能克服上述問題,本研究計畫目的在於企圖一種模組現地性發電性能快速檢測技術,運作該技術並透過短期間之發電性能評估,即可預估該款模組產品之長期發電性能。因此本研究將擬定建立透過時域反射法(Time Domain Reflectometry, TDR)檢測技術評估模組在不同老化程度與阻抗變化之關聯模式。完成分析模式後,將針對一款單晶矽模組系統進行關聯模式驗證。試驗結果顯示PV均有隨著老化時間增加,而功率隨遞減之趨勢,且與TDR阻抗量測有相關性。建議持續進行老化試驗,將老化時間延長,以能明顯確認老化程度與趨勢,藉以更進一步提供TDR評估模組在不同老化程度與阻抗變化之關聯模式建立。