高污染潛勢工業區污染源調查及管制計畫(第三期)
現場調查已發現DNAPL仍具有穿透低滲透性地層（如黏土層或砏黏土）之風險；或低滲透性地層經長年累月所累積的大量溶質回擴至高滲透性地層，造成調查與整治之高度不確定性。而地下水污染團很可能透過滲漏機制而影響至上∕下含水層，因此在調查或採樣設計上很可能需跳脫傳統僅採集至第一含水層底部或僅整治第一含水層的思維；同時界定高、低滲透性地層分佈與評估周遭污染情形，才能確實達到污染防堵與監控。
傳統鑽孔調查技術所獲致之成果均屬於〝點〞的污染情形，DNAPL移動分佈之高度不確定性，或地下水溶解相在高、低滲透性地層之實際分佈，在實場運用上不太可能鉅細靡遺地調查，也造成其污染界定上的困難。近年來，非破壞性地球物理探勘技術已逐漸運用在污染場址之地下環境調查，搭配較少量的鑽孔資料可獲得〝面與空間〞資訊。目前地球物理最廣泛運用之污染調查技術為地面式之地電阻掃瞄法及透地雷達法。但地電阻掃瞄法施測會因建物阻擋或其他地面干擾物致施測距離不足，造成測深受限；透地雷達法之測深則更是受限，特別是存在厚層鋪面或鋼筋網的施測環境。而新穎之地球物理井測技術已開始應用於地下環境特徵調查，其在探測深度上更具優勢，並增加監測井或鑽孔之利用效益。井測法可透過跨孔調查建立高、低滲透性地層、優勢流徑及可能污染分佈等，並掃瞄評估不同時間序列之污染分佈、整治溶劑分佈及整治成效等。
本計畫從實場經驗討論DNAPL或溶解相進入低滲透性地層的原因，說明傳統鑽孔調查技術之瓶頸與因應，並實場運用幾種地面式地球物理技術及新穎地球物理井測技術，調查說明含氯有機溶劑在地下環境之複雜分佈，俾供土壤及地下水污染場址之調查瓶頸能有進一步突破。